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Hot carrier 현상에 의한 Bulk DTMOS의 RF 성능 저하:

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자료유형기사
기사명Hot carrier 현상에 의한 Bulk DTMOS의 RF 성능 저하 :
저자명박장우 이병진 유종근 박종태
발행/형태사항: 대한전자공학회, 2005
수록잡지명전자공학회논문지 - SD : 2005년 02월 제42권 2호
페이지9-14

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1 삼성캠퍼스/종합자료실/ 569.05 전자공구 구독중 2012년 08월 제49권 8호 권호정보
2 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ 569.05 전자공구 제본정보

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