대구한의대학교 향산도서관

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선험적 고장 데이터에 의한 TDX 계열 교환 소프트웨어의 결함 검출율 분석 / 이재기 신상권 홍성백 / 대한전자공학회 / 전자공학회논문지 - S / 1999 /
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