1. X 선 입문 - 1일 코스
   1.1 X 선은 사회에 어느 정도 공헌하고 있는가? ... 2
      1.1.1 우주로부터의 X 선 ... 2
      1.1.2 X 선과 X 선의 이용법 ... 3
      1.1.3 X 선 투과법 ... 3
      1.1.4 X 선 분광법 ... 5
      1.1.5 X 선 회절법 ... 6
   1.2 X 선의 역사 ... 7
      1.2.1 X 선의 발견 ... 7
      1.2.2 회절현상의 발견 ... 8
      1.2.3 X 선에 의한 결정구조의 해석 ... 9
      1.2.4 특성 X 선 파장의 규칙성 ... 10
      1.2.5 열전자 X 선 튜브의 발명 ... 11
      1.2.6 디바이 - 쉐라 법 ... 12
      1.2.7 비간섭성 산란 ... 12
      1.2.8 X 선 회절계 ... 12
      1.2.9 생체 고분자 물질의 구조해석 ... 13
      1.2.10 X 선 CT 장치 ... 13
      1.2.11 최근의 노벨상 ... 13
      1.2.12 SOR 광과 X 선 레이저 ... 14
      1.2.13 일본의 X 선 역사 ... 15
   1.3 우선 실험해 보기로 하자 ... 16
      1.3.1 X 선 회절계로 무엇을 알 수 있는가? ... 16
      1.3.2 결정에 의한 X 선의 회절 ... 18
   1.4 분말 X 선 회절계에 의한 측정예 ... 24
      1.4.1 산화아연(ZnO) ... 24
      1.4.2 유리 분말 ... 25
      1.4.3 산화아연과 유리의 혼합물 ... 25
      1.4.4 산화티탄(TiO₂) ... 25
      1.4.5 산화아연과 산화티탄의 혼합물 ... 26
      1.4.6 산화아연과 산화티탄의 반응생성물 ... 26
      1.4.7 밀러 지수와 격자상수 ... 27
      1.4.8 실리콘 ... 29
      1.4.9 염화나트륨, 염화칼륨 및 브롬화칼륨 ... 29
      1.4.10 실제의 시료와 분말 X 선 회절 페턴 ... 30
      1.4.11 ITO 막 ... 31
      1.4.12 Y-Ba-Cu-O계 복합화물 ... 32
      1.4.13 산화아연 바리스터 중의 미량분석 ... 33
      1.4.14 장치의 구입과 설비의 유지에 대해서 ... 34
2. X 선과 결정에 대한 기초지식
   2.1 X 선에 대한 기초지식 ... 38
      2.1.1 X 선의 광학적 성질 ... 38
      2.1.2 X 선의 발생 ... 39
      2.1.3 연속 X 선 ... 40
      2.1.4 특성 X 선 ... 42
      2.1.5 X 선의 흡수 ... 46
      2.1.6 X 선의 산란 ... 48
      2.1.7 X 선의 장해 방지 ... 50
   2.2 결정에 대한 기초지식 ... 52
      2.2.1 공간 격자와 단위 격자 ... 52
      2.2.2 결정면 ... 56
      2.2.3 결정의 대칭성 ... 58
      2.2.4 점군과 결정학 ... 61
      2.2.5 공간격자의 대칭 ... 61
      2.2.6 공간군 ... 63
      2.2.7 역격자 ... 66
   2.3 무기화합물의 결정구조 ... 69
      2.3.1 결정화학의 기초지식 ... 69
      2.3.2 원소의 결정구조 ... 74
      2.3.3 AX형 화합물의 결정구조 ... 75
      2.3.4 A_mX_n형 화합물의 결정구조 ... 78
      2.3.5 A_mB_nX_x형 화합물의 결정구조 ... 86
      2.3.6 결정모형과 콤퓨터 그래픽스 ... 91
   2.4 결정에 의한 X 선의 회절 ... 95
      2.4.1 원자에 의한 X 선의 산란 ... 95
      2.4.2 결정에 의한 X 선의 회절 ... 99
      2.4.3 회절과 역격자 ... 101
      2.4.4 결정구조인자 ... 104
      2.4.5 전자밀도분포함수 ... 105
      2.4.6 소멸칙 ... 105
      2.4.7 消衰效果 ... 107
3. X 선 회절장치
   3.1 X 선 발생장치 ... 112
      3.1.1 X 선 튜브 ... 112
      3.1.2 고압전압 ... 120
      3.1.3 보안회로와 급수장치 ... 121
      3.1.4 SOR 광과 X 선 레이저 ... 122
   3.2 고니오메터 ... 125
      3.2.1 고니오메터의 광학계 ... 125
      3.2.2 고니오메터의 회전·구동기구 ... 128
      3.2.3 재료에 따른 X 선의 흡수와 필터 ... 130
      3.2.4 모노크로메터 ... 134
      3.2.5 고니오메터의 부속품 ... 136
   3.3 검출기와 계수기록 회로 ... 137
      3.3.1 기체의 전리작용을 이용하는 검출기 ... 137
      3.3.2 신치레이션 계수관 ... 143
      3.3.3 반도체 검출기 ... 143
      3.3.4 에너지 분산형 X 선 회절계 ... 146
      3.3.5 계수·기록·데이타 처리회로 ... 147
      3.3.6 X 선 필름 ... 151
      3.3.7 형광 필름 ... 153
      3.3.8 X 선 테레비 ... 155
   3.4 분말 X 선회절 사진장치 ... 156
      3.4.1 분말 X 선회절 사진법의 특징 ... 156
      3.4.2 디바이 - 쉐라 카메라 ... 157
      3.4.3 라우에 카메라 ... 159
      3.4.4 기니에 카메라 ... 161
4. 분말 X 선회절의 실제
   4.1 시료의 제작과 X 선회절계의 준비 ... 164
      4.1.1 시료의 준비 ... 164
      4.1.2 X 선 튜브의 준비 ... 174
      4.1.3 X 선 회절계의 검정 ... 177
      4.1.4 고니오메터의 조건 설정 ... 178
      4.1.5 계수 기록계의 조건 설정 ... 180
   4.2 정성분석 ... 182
      4.2.1 하나왈트법과 JCPDS 데이타 베이스 ... 182
      4.2.2 미지시료를 同定할 때의 주의 ... 190
      4.2.3 同形인 것을 이용하는 同定法 ... 195
      4.2.4 콤퓨터에 의한 분말 X 선 회절 데이타의 검색 ... 197
   4.3 분말 X 선 회절도형의 해석 ... 204
      4.3.1 전형적인 분말 X 선 회절도형을 얻을 수 있는 경우 ... 205
      4.3.2 회절선의 위치가 이동되어 면간격 값이 달라지는 경우 ... 205
      4.3.3 회절선의 면간격 값이 기존 데이타와 일치하지 않는 경우 ... 206
      4.3.4 백그라운드가 높은 경우 ... 206
      4.3.5 회절강도가 약한 경우 ... 207
      4.3.6 무정형 회절도형이 나타나는 경우 ... 208
      4.3.7 회절선의 상대강도 재현성이 나쁜 경우 ... 208
      4.3.8 특정한 회절선만이 나타나는 경우 ... 209
      4.3.9 주성분 이외의 회절선이 발견되는 경우 ... 210
      4.3.10 회절선이 분열되어 있는 경우 ... 212
      4.3.11 회절선의 폭이 넓어져 있는 경우 ... 213
      4.3.12 회절선의 폭이 높은 각일수록 넓어지는 경우 ... 214
      4.3.13 회절선이 비대칭인 경우 ... 215
      4.3.14 회절도형의 미세한 흔들림이 너무 큰(작은) 경우 ... 216
   4.4 정량 분석 ... 218
      4.4.1 회절 X 선의 강도와 농도와의 관계 ... 218
      4.4.2 시료의 조제와 강도의 측정 ... 222
      4.4.3 회절강도의 측정 ... 224
      4.4.4 격자상수의 측정에 의한 정량분석 ... 225
      4.4.5 결정화도 ... 226
   4.5 단위격자의 모양과 크기의 측정 ... 228
      4.5.1 지수 붙이기 ... 228
      4.5.2 격자상수의 정밀측정 ... 236
   4.6 분말법에 의한 결정구조해석 ... 245
      4.6.1 단위격자 중의 화학 단위수 ... 245
      4.6.2 분말 회절선의 적분강도 ... 246
      4.6.3 분말법에 의한 간단한 결정구조의 해석 ... 248
      4.6.4 리트벨트법에 의한 결정구조해석 ... 249
   4.7 미소 결정의 크기와 불균일 변형 ... 253
      4.7.1 미소 결정의 크기 ... 254
      4.7.2 미소 결정의 불균일 변형 ... 256
      4.7.3 피크 프로화일의 해석 ... 259
   4.8 비정질의 구조해석 ... 260
      4.8.1 동경분포 함수 ... 260
      4.8.2 산란강도의 측정 ... 262
      4.8.3 동경분포 곡선의 측정 예 ... 264
5. 특수한 장치를 필요로 하는 분말 X선 회절법
   5.1 특수한 조건 아래에서의 분말 X 선 회절 ... 267
      5.1.1 고온 분말 X 선 회절 ... 268
      5.1.2 저온 분말 X 선 회절 ... 280
      5.1.3 고압에서의 X 선 회절 ... 282
      5.1.4 수열반응 추적용 X 선 회절 카메라 ... 285
      5.1.5 습도 조절 X 선 회절 ... 286
   5.2 특수한 상태에 있는 시료의 분말 X 선 회절 ... 287
      5.2.1 불안정한 시료 ... 288
      5.2.2 유동시료 운속 측정용 X 선 회절장치 ... 289
      5.2.3 문화재용 X 선 회절계 ... 291
      5.2.4 미소 영역 측정용 X 선 회절계 ... 292
      5.2.5 박막용 X 선 회절계 ... 293
      5.2.6 결정립경자동측정장치 ... 295
   5.3 小角散亂 ... 297
   5.4 집합조직 ... 301
   5.5 응력 측정 ... 305
6. 단결정에 의한 X선 회절
   6.1 단결정 구조해석 ... 310
      6.1.1 단결정 시료의 준비와 회절 데이타의 수집 ... 311
      6.1.2 결정구조의 결정 ... 316
      6.1.3 결정구조의 정밀화 ... 318
      6.1.4 단결정 구조해석 예 ... 321
      6.1.5 절대구조의 결정 ... 324
   6.2 단결정의 방위 결정 ... 326
      6.2.1 배면 반사 라우에법에 의한 방위 결정 ... 326
      6.2.2 절단면 검사기 ... 330
   6.3 X 선 토포그라프 법 ... 331
      6.3.1 Lang 법 ... 331
      6.3.2 베르그 바레트 법 ... 333
      6.3.3 二結晶法 ... 335
      6.3.4 X 선 테레비에 의한 토포그라프 무늬의 관찰 ... 336
부록
   문헌 ... 341
   찾아보기(국문) ... 345
   찾아보기(영문) ... 355