제1부 이론편
   제1장 실험 기초 지식
      1.1 집적회로의 종류와 특성 ... 11
        1.1.1 IC의 종류 ... 11
        1.1.2 TTL의 종류 및 특징 ... 13
        1.1.3 CMOS IC의 종류 및 특징 ... 14
        1.1.4 TTL과 CMOS의 비교 ... 15
        1.1.5 집적도(Level of integration) ... 16
        1.1.6 실장(package) 방식 ... 18
        1.1.7 IC의 핀(Pin)번호 ... 19
      1.2 저항 및 콘덴서 ... 20
        1.2.1 저항값 읽는 법 ... 20
        1.2.2 콘덴서값 읽는 법 ... 21
      1.3 실험과 실습에 임하는 기본 자세 ... 22
      1.4 안전 ... 23
        1.4.1 안전 교육의 중요성 ... 23
        1.4.2 전기 안전 ... 23
      1.5 특수문자, 단위량계 ... 25
        1.5.1 MKS 단위계의 기본 단위 ... 25
        1.5.2 특수문자 ... 26
        1.5.3 표준 10진 접두어 ... 26
      1.6 실험보고서 작성 요령 ... 27
제2부 실험편
   실험 1 AND, OR, NOT 게이트 실험 ... 31
   실험 2 NAND, NOR 게이트 실험 ... 43
   실험 3 XOR, XNOR 게이트 실험 ... 55
   실험 4 부울대수의 정리 ... 71
   실험 5 드 모르간의 정리 ... 83
   실험 6 코드 변환 회로 실험 ... 93
   실험 7 가산기, 감산기 회로 실험 ... 103
   실험 8 비교기 회로 실험 ... 119
   실험 9 부호기와 복호기 실험 ... 129
   실험 10 멀티플렉서와 디멀티플렉서 실험 ... 141
   실험 11 RS와 D 플립플롭 실험 ... 153
   실험 12 JK와 T 플립플롭 실험 ... 167
   실험 13 비동기식 카운터 ... 175
   실험 14 동기식 카운터 ... 189
   실험 15 레지스터(Register) 실험 ... 205
   실험 16 링 카운터와 존슨 카운터 실험 ... 217
   실험 17 펄스 발생회로 실험 ... 231
제3부 장비편
   장비 1 논리회로장치 및 공구 사용법 ... 243
   장비 2 오실로스코프 사용법 ... 249
   장비 3 테스터기 사용법 ... 279
   장비 4 직류전원장치 사용법 ... 287
   장비 5 함수발생기 사용법 ... 293
제4부 부록편
   부록 A 데이터 시트 ... 303
   부록 B 74 시리즈 TTL과 HC-MOS 핀 구성도 ... 345