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[전방일치/ 출판사:IEEE Computer Society]
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매체
201
On the Effect of Defect Clustering on Test Transparency and IC Test Optimization
A.D.Singh C.M.Krishna
IEEE computer society
1996
202
Minimization of Memory and Network Contention for Accessing Arbitrary Data Patterns in SIMD Systems
M.A.Al-Mouhamed S.S.Seiden
IEEE computer society
1996
203
A Modified TRAM Architecture
S.Rai V.P.Kirpalani
IEEE computer society
1996
204
System Dependability Evaluation via a Fault List Generation Algorithm
D.T.Smith B.W.Johnson J.A.Profeta Ⅲ
IEEE computer society
1996
205
Augmented Binary Hypercube: A New Architecture for Processor Management
H.Lalgudi I.F.Akyildiz S.Yalamanchili
IEEE computer society
1996
206
Generalized Partially-Mixed-Polarity Reed-Muller Expansionand Its Fast Computation
H.Wu M.A.Perkowski X.Zeng
IEEE computer society
1996
207
Locality as a Visualization Tool
K.Grimsrud J.Archibald R.Frost
IEEE computer society
1996
208
Sequencing Tasks to Minimize the Effects of Near-Coincident Faults in TMR Controller Computers
S.Fujita M.Yamashitar
IEEE computer society
1996
209
Counting Two-State Transition-Tour Sequences
N.R.Saxena E.J.McCluskey
IEEE computer society
1996
210
Hyperneural Network- An Efficient Model for Test Generation in Digital Circuits
S.Rai W.Deng
IEEE computer society
1996
21
22
23
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