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검색어[전방일치/ 기사제목:순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조]
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기사제목
순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조  미리보기
기사저자명
허경회 강용석 강성호
출판사
대한전자공학회
발행년
2000
자료유형
NotFound 저널기사
1 
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