대구한의대학교 향산도서관

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기사제목
Low Voltage Program/Erase Characteristics of Si nanocrystal Memory with Damascene Gate FinFET on Bulk Si Wafer :  미리보기
기사저자명
조정동 요경환 안영준 이종진 이세훈 최병영 성숙강 조은숙 이충호 김동원 정일섭 박동군 류병일
출판사
Institute of Electronics Engineers of Korea
발행년
2006
자료유형
NotFound 저널기사
1 
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