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검색어[전방일치/ 기사제목:진폭변조 캐패시턴스에 의한 비정질실리콘의 깊은 결함밀도 측정]
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기사제목
진폭변조 캐패시턴스에 의한 비정질실리콘의 깊은 결함밀도 측정  미리보기
기사저자명
박혁렬 이석호
출판사
한국물리학회
발행년
2000
자료유형
NotFound 저널기사
1 
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