대구한의대학교 향산도서관

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기사제목
Co-existence of Random Telegraph Noise and Single-Hole-Tunneling State in Gate-All-Around PMOS Silicon Nanowire Field-Effect-Transistors:  미리보기
기사저자명
홍병학 이성주 황성우 조근희 여경환 김동원 진교영 박동건
출판사
Institute of Electronics Engineers of Korea
발행년
2011
자료유형
NotFound 저널기사
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도서관정보

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