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검색어[전방일치/ 기사제목:Gate Oxide Reliabilities in MOS (Metal-Oxide-Semiconductor) Structures with Ti-Polycide Gates]
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기사제목
Gate Oxide Reliabilities in MOS (Metal-Oxide-Semiconductor) Structures with Ti-Polycide Gates:  미리보기
기사저자명
Kim, H.-S.;Ko, D.-H.;Bae, D.-L.;
출판사
Institute of Electrical and Electronics Engineers
발행년
1998
자료유형
NotFound 저널기사
1 
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