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기사제목
Effects of drain structures on the hot-carrier degradation of high-voltage LDMOS transistors :  미리보기
기사저자명
Lee,D.W. Roh,T.M. Kim,J. Koo,J.G. Nam,K.S. Kim,D.Y. Park,H.S.
출판사
한국물리학회
발행년
1999
자료유형
NotFound 저널기사
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