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검색어[전방일치/ 기사제목:Low-field bulk defect generation during uniform carrier injection into the Gate Insulator of insulated Gate Field Effect transistors at Varios temperatures]
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기사제목
Low-field bulk defect generation during uniform carrier injection into the Gate Insulator of insulated Gate Field Effect transistors at Varios temperatures:  미리보기
기사저자명
Kim, H. S. ;Williams, C. K. ;Reisman, A.;
출판사
Institute of Electrical and Electronics Engineers
발행년
1998
자료유형
NotFound 저널기사
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