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Low Voltage Program/Erase Characteristics of Si nanocrystal Memory with Damascene Gate FinFET on Bulk Si Wafer : / 조정동 요경환 안영준 이종진 이세훈 최병영 성숙강 조은숙 이충호 김동원 정일섭 박동군 류병일 / Institute of Electronics Engineers of Korea / Journal of Semiconductor Technology and Science / 2006 /