대구한의대학교 향산도서관

바구니

검색간략리스트

1.
저널기사
Defects in Annealed 1.5 MeV Boron Implanted p-type Silicon: / Dai, J. Y.;Ong, K. K.;Chi, D. Z.; / Institute of Electrical and Electronics Engineers / Journal of Electronic Materials / 2001 /