상세정보
Export to Refworks부가기능
MCM/PCB 회로패턴 검사에서 SEM의 전자빔을 이용한 측정방법
기사 상세정보
소장정보
- 소장정보
| No. | 소장처 | 소장사항 | 청구기호 | 구독 | 최근입수호 | 권호·제본정보 보기 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ | 569.05 전자공개 | 구독중단 | 1999년 12월 제36권 12호 |
|
| No. | 소장처 | 소장사항 | 청구기호 | 구독 | 최근입수호 | 권호·제본정보 보기 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ | 569.05 전자공개 | 구독중단 | 1999년 12월 제36권 12호 |
|
