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FFR에서의 임계-쌍 경로를 이용한 효율적인 테스트 생성

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자료유형기사
기사명FFR에서의 임계-쌍 경로를 이용한 효율적인 테스트 생성 :
저자명서성환 안광선
발행/형태사항: 대한전자공학회, 1999
수록잡지명전자공학회논문지 - CI : 1999년 04월 제36권 4호
페이지1-16

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1 삼성캠퍼스/종합자료실/ 569.05 전자공거 구독중 2012년 07월 제49권 4호 권호정보
2 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ 569.05 전자공거 제본정보

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