상세정보
Export to Refworks부가기능
고분해능 투과전자현미경을 이용한 (001) CdTe/(001) GaAs 박막의 결함 분석
기사 상세정보
소장정보
- 소장정보
| No. | 소장처 | 소장사항 | 청구기호 | 구독 | 최근입수호 | 권호·제본정보 보기 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ | 420 응용물 | 구독중단 | 2000년부터 새물리로 통합 |
|
| No. | 소장처 | 소장사항 | 청구기호 | 구독 | 최근입수호 | 권호·제본정보 보기 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ | 420 응용물 | 구독중단 | 2000년부터 새물리로 통합 |
|
