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SOP Image SRAM Buffer용 다양한 데이터 패턴 병렬 테스트 회로:

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자료유형기사
기사명SOP Image SRAM Buffer용 다양한 데이터 패턴 병렬 테스트 회로 :
저자명정규호 유재희
발행/형태사항: 대한전자공학회, 2009
수록잡지명전자공학회논문지 - SD : 2009년 09월 제46권 9호
페이지14-24

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1 삼성캠퍼스/종합자료실/ 569.05 전자공구 구독중 2012년 08월 제49권 8호 권호정보
2 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ 569.05 전자공구 제본정보

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