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CMOS 회로에 있어서의 합선 및 절선결함 테스팅

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자료유형기사
기사명CMOS 회로에 있어서의 합선 및 절선결함 테스팅 :
저자명홍성제
발행/형태사항: 대한전자공학회, 1995
수록잡지명전자 공학 회지 : 1995년 12월 제22권 12호
페이지124-130

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No. 소장처 소장사항 청구기호 구독 최근입수호 권호·제본정보 보기
1 삼성캠퍼스/종합자료실/ 569.05 전자공 구독중 2013년 03월 제40권 3호 권호정보
2 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ 569.05 전자공 제본정보

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