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Export to Refworks부가기능
Low field stress induced double donor defect in metal oxide silicon structures.:
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| No. | 소장처 | 소장사항 | 청구기호 | 구독 | 최근입수호 | 권호·제본정보 보기 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ | 420.4105 S686 | 구독중단 | 2005년 12월 06일 Vol.136 No.11-12 |
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| No. | 소장처 | 소장사항 | 청구기호 | 구독 | 최근입수호 | 권호·제본정보 보기 |
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| 1 | 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ | 420.4105 S686 | 구독중단 | 2005년 12월 06일 Vol.136 No.11-12 |
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