대구한의대학교 향산도서관

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Comparative investigation of endurance and bias temperature instability characteristics in metal-Al2O3-nitride-oxide-semiconductor (MANOS) and semiconductor-oxide-nitride-oxide-semiconductor (SONOS) charge trap flash memory:

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자료유형	기사
기사명	Comparative investigation of endurance and bias temperature instability characteristics in metal-Al2O3-nitride-oxide-semiconductor (MANOS) and semiconductor-oxide-nitride-oxide-semiconductor (SONOS) charge trap flash memory :
저자명	김대환 박성욱 서유정 김태근 김동명 조일환
발행/형태사항	: Institute of Electronics Engineers of Korea, 2012
수록잡지명	Journal of Semiconductor Technology and Science : 2012년 12월 Vol.12 No.4
페이지	449-457

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1	삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/		569.405	구독중단	2014년 02월 Vol.14 No.1

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