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Export to Refworks부가기능
투과전자현미경을 이용한 GaAs의 면결함 구조 연구
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| No. | 소장처 | 소장사항 | 청구기호 | 구독 | 최근입수호 | 권호·제본정보 보기 |
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| 1 | 삼성캠퍼스/종합자료실/ | 433 분석과 | 구독중 | 2011년 02월 Vol.24 No.1 |
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| 2 | 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ | 433 분석과 |
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