자료유형 | 학위논문 |
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서명/저자사항 | Stochastic Yield Analysis of Rare Failure Events in High-Dimensional Variation Space. |
개인저자 | Shi, Xiao. |
단체저자명 | University of California, Los Angeles. Electrical and Computer Engineering 0333. |
발행사항 | [S.l.]: University of California, Los Angeles., 2020. |
발행사항 | Ann Arbor: ProQuest Dissertations & Theses, 2020. |
형태사항 | 100 p. |
기본자료 저록 | Dissertations Abstracts International 81-11B. Dissertation Abstract International |
ISBN | 9798641841717 |
학위논문주기 | Thesis (D.Env.)--University of California, Los Angeles, 2020. |
일반주기 |
Source: Dissertations Abstracts International, Volume: 81-11, Section: B.
Advisor: He, Lei. |
이용제한사항 | This item must not be sold to any third party vendors. |
일반주제명 | Electrical engineering. |
언어 | 영어 |
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