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Stochastic Yield Analysis of Rare Failure Events in High-Dimensional Variation Space
상세 프로파일
| 자료유형 | 학위논문 |
|---|---|
| 서명/저자사항 | Stochastic Yield Analysis of Rare Failure Events in High-Dimensional Variation Space. |
| 개인저자 | Shi, Xiao. |
| 단체저자명 | University of California, Los Angeles. Electrical and Computer Engineering 0333. |
| 발행사항 | [S.l.]: University of California, Los Angeles., 2020. |
| 발행사항 | Ann Arbor: ProQuest Dissertations & Theses, 2020. |
| 형태사항 | 100 p. |
| 기본자료 저록 | Dissertations Abstracts International 81-11B. Dissertation Abstract International |
| ISBN | 9798641841717 |
| 학위논문주기 | Thesis (D.Env.)--University of California, Los Angeles, 2020. |
| 일반주기 |
Source: Dissertations Abstracts International, Volume: 81-11, Section: B.
Advisor: He, Lei. |
| 이용제한사항 | This item must not be sold to any third party vendors. |
| 일반주제명 | Electrical engineering. |
| 언어 | 영어 |
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: 이 자료의 원문은 한국교육학술정보원에서 제공합니다. |
