대구한의대학교 향산도서관

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병렬 테스트 방법을 적용한 고집적 SRAM을 위한 내장된 자체 테스트 기법 / 강용석 이종철 강성호 / 대한전자공학회 / 전자공학회논문지 - CI / 1998 /
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