대구한의대학교 향산도서관

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테스트 시간과 테스트 전력 감소를 위한 선택적 세그먼트 바이패스 스캔 구조: / 양명훈 김용준 박재석 강성호 / 대한전자공학회 / 전자공학회논문지 - SD / 2009 /
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