대구한의대학교 향산도서관

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Trade-off Characteristic between Gate Length Margin and Hot Carrier Lifetime by Considering ESD on NMOSFETs of Submicron Technology: / 정봉규 강정원 황호정 김상용 권오견 / 한국전기전자재료학회 / Transactions on Electrical and Electronic Materials / 2006 /
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