대구한의대학교 향산도서관

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PMOSFET에서 Hot carrier lifetime은 Hole injection에 의해 지배적이며, Nano-scale CMOSFET에서의 NMOSFET에 비해 강화된 PMOSFET 열화 관찰: / 나준희 최서윤 김용구 이희덕 / 대한전자공학회 / 전자공학회논문지 - SD / 2004 /
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