대구한의대학교 향산도서관

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System-on-a-chip(SOC)에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트: / 정준모 정종화 / 대한전자공학회 / 전자공학회논문지 - SD / 2002 /
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