대구한의대학교 향산도서관

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3차원 메모리의 수율 증진을 위해 접합 공정에서 발생하는 추가 고장을 고려한 다이 매칭 방법: / 이주환 박기현 강성호 / 대한전자공학회 / 전자공학회논문지 - SD / 2011 /
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