대구한의대학교 향산도서관

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PECVD 방법에 의해 제작된 SiNχ/InP MIS 구조의 Bias-Stress에 의한 C-V 및 G-V 곡선의 변화 / 이명복 한일기 이유종 / 한국물리학회 / 새 물리 / 1992 /
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