대구한의대학교 향산도서관

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Effects of electrical stress on the mid-gap interface density and the capture cross sections characterized by pulsed interface probing (PIP) measurements: / 권혁인 강인만 박병국 이종덕 현우석 ㅂ가상식 안정착 이용희 / 한국물리학회 / Journal of the Korean Physical Society / 2004 /
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