대구한의대학교 향산도서관

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저전력 테스트를 고려한 효율적인 테스트 데이터 압축 방법: / 전성훈 임정빈 김근배 안진호 강성호 / 대한전자공학회 / 전자공학회논문지 - SD / 2005 /
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