대구한의대학교 향산도서관

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순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조 / 허경회 강용석 강성호 / 대한전자공학회 / 전자공학회논문지 - SD / 2000 /
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