대구한의대학교 향산도서관

선택목록저장

검색간략리스트

저널기사
Effects of drain structures on the hot-carrier degradation of high-voltage LDMOS transistors : / Lee,D.W. Roh,T.M. Kim,J. Koo,J.G. Nam,K.S. Kim,D.Y. Park,H.S. / 한국물리학회 / Journal of the Korean Physical Society / 1999 /
항목 :