대구한의대학교 향산도서관

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Characterizatio of MOCVD-TiO₂and ZrO₂insulating layers in MFIS structures by DLTS and ICTS methods: / Fujisawa,H. Sugata,M. Shimizu,M. Niu,H. / 한국물리학회 / Journal of the Korean Physical Society / 2003 /
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