대구한의대학교 향산도서관

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검색어[전방일치/ 저자:박성주]
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1.
서명
고밀도 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST의 비교분석  미리보기
저자
박성주
출판사
한양대학교 공학기술연구소
청구기호
공학 기술 논문집(한양대)
출판년
1999
자료유형
NotFound 저널기사
소장처
 
1 
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