대구한의대학교 향산도서관

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1.
서명
Investigation on Mechanical Damage by using Measurements of the Minority Carrier Lifetime, the X-ray Diffuse Scattering, and the Photo-acoustic Displacement in Silicon Wafers  미리보기
저자
최치영 조상희
출판사
한국물리학회
청구기호
응용 물리
출판년
1999
자료유형
NotFound 저널기사
소장처
 
2.
서명
기계적 손상에 의한 실리콘 웨이퍼의 반송자 수명과 표면거칠기와의 관계  미리보기
저자
최치영 조상희
출판사
한국전기전자재료학회
청구기호
전기 전자 재료 학회 논문지
출판년
1999
자료유형
NotFound 저널기사
소장처
 
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