대구한의대학교 향산도서관

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검색어[전방일치/ 저자:윤대현]
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1.
서명
Dynamic Power Supply Current Testing for Open Defects in CMOS SRAMs  미리보기
저자
윤대현 김홍식 강성호
출판사
Electronics and Telecommunications Research Institute
청구기호
ETRI Journal
출판년
2001
자료유형
NotFound 저널기사
소장처
 
1 
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