대구한의대학교 향산도서관

검색어[전방일치/ 저자:김대환]

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131.

132.

133.

134.

서명: Comparative investigation of endurance and bias temperature instability characteristics in metal-Al2O3-nitride-oxide-semiconductor (MANOS) and semiconductor-oxide-nitride-oxide-semiconductor (SONOS) charge trap flash memory:
저자: 김대환 박성욱 서유정 김태근 김동명 조일환
출판사: Institute of Electronics Engineers of Korea
청구기호: Journal of Semiconductor Technology and Science
출판년: 2012
자료유형: 저널기사
소장처

135.

136.

137.

138.

서명: Intraluminal duodenal divertivulum causing chronic gastrointestinal bleeding in adults :
저자: 김대환 김현승 조용훈
출판사: 대한외과학회
청구기호: 대한 외과학 회지
출판년: 2009
자료유형: 저널기사
소장처

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