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Export to Refworks부가기능
차세대 CMOS구조에서 고에너지 이온주입에 의한 래치업 최소화를 위한 모델 해석
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| No. | 소장처 | 소장사항 | 청구기호 | 구독 | 최근입수호 | 권호·제본정보 보기 |
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| 1 | 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ | 569.05 전자공개 | 구독중단 | 1999년 12월 제36권 12호 |
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| No. | 소장처 | 소장사항 | 청구기호 | 구독 | 최근입수호 | 권호·제본정보 보기 |
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| 1 | 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ | 569.05 전자공개 | 구독중단 | 1999년 12월 제36권 12호 |
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