대구한의대학교 향산도서관

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차세대 CMOS구조에서 고에너지 이온주입에 의한 래치업 최소화를 위한 모델 해석 / 노병규 조소행 오황술 / 대한전자공학회 / 전자공학회논문지 - D / 1999 /
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