대구한의대학교 향산도서관

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차세대 CMOS구조에서 고에너지 이온주입에 의한 래치업 최소화를 위한 모델 해석

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No. 소장처 소장사항 청구기호 구독 최근입수호 권호·제본정보 보기
1 삼성캠퍼스/연속간행물실(2층)/ 569.05 전자공개 구독중단 1999년 12월 제36권 12호 권호정보 제본정보

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